近日，我单位实验室为深圳某厂家的军用固态硬盘提供了温度冲击和正弦振动测试服务。

检测依据按照GJB150.16-86和GJB150.5A-2009标准进行。

温度冲击试验：-60摄氏度~+85摄氏度，温度转换时间小于3分钟，高低温温度点各保持1小时，共循环10次；

正弦振动试验：5hz~5.5hz,位移峰峰值25.4mm;5.5hz~30hz,加速度15m/s2;30hz~50hz,位移峰峰值0.84mm;50hz~500hz,加速度42m/s2;扫频速率为1oct/min,振动三个相互垂的方向，每方向循环20次。

该被测设备在温度冲击和正弦振动试验后，外观结构无损坏，能正常读写数据，符合委托方的判决要求。

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