第三方检验检测认证机构,通过了检验检测机构资质认定(CMA)、中国合格评定国家认可委员实验室认可(CNAS)

高低温环境试验分为高温工作、低温工作、低温贮存、高温贮存测试类型。

实验室具备从0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低温温度试验系统，具备独立的搭接样品的空间，试验箱一侧均具备出线端子，可以引出电源线或信号线进行产品的工作操作试验。

高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。

  高低温测试试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。

高低温High and low temperature testing试验方法：

预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。

样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。

在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。

进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。

高温和低温试验分别重复10次。

重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。

恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。

最后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。

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